集多種功能于一身
主要功能
● 美國Holland Scientific公司的Crop Circle Phenom 2植物光譜物候測量系統(tǒng)，可用于研究植物冠層輻射穿透及與植物冠層及生長相關的各項環(huán)境指標。
● 系統(tǒng)由ACS-435植物冠層光譜探頭、DAS44X多參數(shù)傳感探頭和GeoSCOUT X數(shù)據(jù)采集器組成。
● ACS435植物冠層光譜探頭，可同時測量670nm, 730nm和780nm三個波長的反射率，可計算得到樣品的NDRE和NDVI植被指數(shù)。ACS-435不受環(huán)境光的限制，通過其獨特的光源測定技術(shù)，白天和夜晚均可進行測定。
● DAS44X多參數(shù)傳感探頭將多種不同功能的傳感器集成到一個緊湊的探頭里。包括頂部入射PAR和底部反射PAR，紅外冠層溫度，空氣溫度，空氣相對濕度，探頭到冠層的距離、大氣壓。DAS44X還配有2個24位差分電壓信號擴展通道。
● GeoSCOUT X數(shù)據(jù)采集終端內(nèi)置有GPS，采集數(shù)據(jù)的同時可對數(shù)據(jù)進行地理信息標記，內(nèi)置2GB SD內(nèi)存卡。GeoSCOUT X數(shù)據(jù)采集終端可連接2組Phenom 2探頭，外加2個RS-232串口設備，還可方便設置不同設備的位置修正參數(shù)。
● 系統(tǒng)不僅可裝配到各種車輛或拖拉機上，還可搭載到無人機，對較大尺度的農(nóng)田、植被等植物冠層參數(shù)進行測量。所測數(shù)據(jù)可用于品種篩選，植物生理特性研究，分析植物或作物的養(yǎng)分、水分、病害及其他生長狀況等。
測量參數(shù)
NDVI植被指數(shù)，NDRE植被指數(shù)，LAI葉面積指數(shù)，冠層葉綠素含量，紅邊反射率，近紅外反射率，紅光反射率，入射PAR，冠層反射PAR，紅外冠層溫度，空氣溫度，空氣相對濕度，傳感器到冠層距離，大氣壓等。
主要特點
● 將功能豐富的傳感器集成到一個系統(tǒng)中。小巧輕便，功能強大。
● 集合了多光譜、空氣溫濕度、PAR等多種傳感器，獲取植物冠層參數(shù)更全面。
● 三個光譜通道可同時測量670nm, 730nm和780nm的反射率信息
● 先進的自主光源反射技術(shù)，白天夜晚均可測定
● 可對數(shù)據(jù)進行地理標記
應用領域
● 高通量植物表型研究 ● 植物營養(yǎng)及肥料研究 ● 除草劑作用及效果研究 ● 生物量無損測定 ● 植物長勢動態(tài)監(jiān)測 ● 早期病害監(jiān)測 ● 植物衰老研究 ● 草地及作物測繪 ● 作物育種 |
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應用案例
小麥冠層葉面積指數(shù)和傳感器與冠層距離的回歸分析
13個冬小麥品系的產(chǎn)量與系統(tǒng)獲取的5種表型參數(shù)的相關性分析
（A小麥產(chǎn)量，B冠層溫度與環(huán)境溫度差，C冠層葉綠素含量，D光合有效輻射吸收系數(shù)，E葉面積指數(shù)，F(xiàn)冠層高度）
產(chǎn)地：美國Holland
